產(chǎn)品中心
Product Center
熱門(mén)搜索:
    
    
      JNM-ECZR 系列核磁共振譜儀
    
      軟X射線(xiàn)分析譜儀
    
      JSM-IT700HR日本電子掃描電鏡
    
      液氮液氦回收系統(tǒng)
    
    
    
      ROHS金屬成分分析儀
    
      IB-19530CP日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備
    
      JXA-iHP200F 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀
    
      JSM-IT510日本電子SEM
    
    
    
      SEM掃描電鏡
    
      JCM-7000 NeoScope™日本電子臺(tái)式掃描電鏡
    
      JCM-7000 NeoScope™JEOL臺(tái)式掃描電子顯微鏡
    
      掃描電鏡價(jià)格
    
    
    
      EM-09100IS離子切片儀
    
      IB-19530CP截面樣品制備裝置
    
      JNM-ECZL 系列 核磁共振譜儀
    
      JSX-1000S 能量色散型X射線(xiàn)熒光分析儀
    
    
當(dāng)前位置:首頁(yè)
產(chǎn)品中心
制樣設(shè)備
日本電子JEOL截面拋光儀制樣設(shè)備為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
更新時(shí)間:2025-06-12
產(chǎn)品型號(hào):IB-19530CP
瀏覽量:3137
IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過(guò)程中利用液氮冷卻,能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長(zhǎng)、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下,也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫,并且可以拆卸。配有傳送機(jī)構(gòu),在隔離空氣的環(huán)境下能完成從加工到觀察的全過(guò)程。
更新時(shí)間:2025-06-12
產(chǎn)品型號(hào):IB-19520C
瀏覽量:2297
IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿(mǎn)足市場(chǎng)多樣化的需求,IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái),通過(guò)交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
更新時(shí)間:2025-06-12
產(chǎn)品型號(hào):
瀏覽量:2663
EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法 離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡(jiǎn)單。低能量、低角度(0°到6°)的氬離子束通過(guò)遮光帶照射樣品,大大降低了離子束對(duì)樣品的輻照損壞。即使是柔軟的材料,制備的薄膜質(zhì)量也好,對(duì)不同成份的樣品甚至含有多孔合成物也都能夠有效制備。
更新時(shí)間:2025-06-12
產(chǎn)品型號(hào):EM-09100IS
瀏覽量:2760
IB-09060CIS™ 低溫冷凍離子切片儀易受熱損傷的樣品,也能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品。冷卻保持時(shí)間長(zhǎng),有效地抑制了熱損傷。
更新時(shí)間:2025-06-12
產(chǎn)品型號(hào):IB-09060CIS™
瀏覽量:2273
0512-63022732
